Tunable isolated gate driver supply for automated switching loss measurement of Power Field Effect Transistors - Les productions scientifiques du groupe CS du laboratoire plasma et conversion d’énergie
Communication Dans Un Congrès Année : 2024

Tunable isolated gate driver supply for automated switching loss measurement of Power Field Effect Transistors

Nicolas C. Rouger
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Nicolas C. Rouger, Fabien Devilliers. Tunable isolated gate driver supply for automated switching loss measurement of Power Field Effect Transistors. IEEE Design Methodologies Conference 2024, Nov 2024, Grenoble, France. ⟨10.1109/DMC62632.2024.10812130⟩. ⟨hal-04844860⟩
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