Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2019

Cycle life and statistical predictive reliability model for all-solid-state thin film microbatteries

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hal-01997427 , version 1 (21-10-2021)

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Nathanaël Grillon, Emilien Bouyssou, Sebastien Jacques, Gaël Gautier. Cycle life and statistical predictive reliability model for all-solid-state thin film microbatteries. Microelectronics Reliability, 2019, 93, pp.102-108. ⟨10.1016/j.microrel.2019.01.003⟩. ⟨hal-01997427⟩
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